产品详情
简单介绍：
台式X射线荧光光谱仪EDXRF_THICK900系列镀层测厚仪专为在*微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计是高性价比的XRF测厚仪。除了镀层分析，台式X射线荧光光谱仪EDXRF_THICK900系列镀层测厚仪还可以加装全元素分析软件，ROHS 2.0 分析软件，满足客户一机多用的测试需求。
详情介绍：
台式X射线荧光光谱仪EDXRF_THICK900系列镀层测厚仪
上海铸金分析仪器有限公司供应多系列的X射线荧光光谱分析仪，可满足用户镀层测厚、RoHS测试、合金分析、金属回收、土壤重金属检测、稀土鉴别等诸多应用需求。
台式X射线荧光光谱仪EDXRF_THICK900系列镀层测厚仪简介：
自1984年以来，厂家一直专注于X荧光光谱仪的研发和制造，伴随着工业全球化的推进，整机性能的提升和元素分析算法的智能化，始终致力于**EDXRF技术的发展方向。X荧光光谱仪广泛应用于工业生产的各个行业，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们始终坚持急客户之所急，想客户之所想。通过**的测试仪器和特殊算法为客户提供较佳的解决方案，针对不同行业提供个性定制。台式X射线荧光光谱仪EDXRF_THICK900系列镀层测厚仪特点：
▲自上而下的照射系统，测量不规则镀件更方便
●铬镀层，如：经过装饰性镀铬处理的塑料制品
●防腐蚀镀层，如钢材上的锌镀层
●印制电路板和柔性电路板上的镀层
●接插件和连接器上的镀层
●电镀槽液分析
▲一机多用，不只是测试厚度
●THICK900系列XRF测厚仪专为在*微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。该系列仪器均配备用于聚焦X射线束，短时间内就可形成高强度聚焦射线。除了镀层分析，还可以加装全元素分析软件，ROHS 2.0 分析软件，满足客户一机多用的测试需求。
▲内部设计：
可测样品*高130mm
▲**系统：
**光栅预防意外事故同时保护探测器，降低误操作带来的仪器损坏
▲外形设计：
X射线辐射豁免 三维移动测试平台
