产品详情
简单介绍：
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER是材料研究领域的**X射线衍射系统，分析样品从粉末，多晶材料到单晶外延膜样品。布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER可以使用户非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
详情介绍：
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER简介：
D8 DISCOVER是配备了诸多黑科技的多功能衍射仪系统。分析样品从粉末，多晶材料到单晶外延膜样品。布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的**X射线衍射系统。X射线衍射仪D8 DISCOVER采用**性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER特点：
第三代Göbel 镜可以提供高通量X射线——这对于所有的薄膜应用研究来说都是非常必要的。
整个系统的设计都基于简单易行和故障保护的理念之上。像机械减震器这样的工具允许在无用户介入的情况下进行全自动操作。
可以根据不同样品和具体应用的需要从大量高性能的光学配件中进行选择，从而达到的分辨率。
X射线衍射仪D8 DISCOVER采用新型UMC载物台和各种不同类型的尤拉环可以组合成**的样品承载系统，非常适于进行残余应力、织构和微区衍射分析。在用X射线反射法对镀层或者半导体进行研究时甚至还可以利用专用的样品台进行变温研究。
不论是利用UltraGID(*级掠射入射衍射)对纳米层进行研究还是利用VÅNTEC-1检测器对倒易空间测绘进行研究都可以**在*短的时间内完成任务。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在进行各种分析测试时向用户提供*直观的图像，同时智能脚本负责常规性工作。评估计算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用户处于科技的前沿。
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER主要应用：
晶格错配
组份
应变及弛豫过程
横向结构
镶嵌度
薄膜厚度
组份
粗造度
密度
孔隙度
晶格错配
组份
取向
弛豫
横向结构
晶胞参数
晶格错配
横向关联性
取向
物相组成
孔隙度
取向定量
应变
外延关联
硬度
d值确定
择优取向
晶格对称性
晶粒大小
D8 DISCOVER是配备了诸多黑科技的多功能衍射仪系统。分析样品从粉末，多晶材料到单晶外延膜样品。布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的**X射线衍射系统。X射线衍射仪D8 DISCOVER采用**性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER特点：
第三代Göbel 镜可以提供高通量X射线——这对于所有的薄膜应用研究来说都是非常必要的。
整个系统的设计都基于简单易行和故障保护的理念之上。像机械减震器这样的工具允许在无用户介入的情况下进行全自动操作。
可以根据不同样品和具体应用的需要从大量高性能的光学配件中进行选择，从而达到的分辨率。
X射线衍射仪D8 DISCOVER采用新型UMC载物台和各种不同类型的尤拉环可以组合成**的样品承载系统，非常适于进行残余应力、织构和微区衍射分析。在用X射线反射法对镀层或者半导体进行研究时甚至还可以利用专用的样品台进行变温研究。
不论是利用UltraGID(*级掠射入射衍射)对纳米层进行研究还是利用VÅNTEC-1检测器对倒易空间测绘进行研究都可以**在*短的时间内完成任务。
XRD Wizard和XRD
Commander可以在进行各种分析测试时向用户提供*直观的图像，同时智能脚本负责常规性工作。评估计算程序LEPTOS和MULTEX
Area可以**用户处于科技的前沿。
布鲁克多功能衍射仪_材料研究XRD_X射线衍射仪D8 DISCOVER主要应用：
- 高分辨XRD(HRXRD)
外延多层膜厚度
晶胞参数晶格错配
组份
应变及弛豫过程
横向结构
镶嵌度
- X射线反射率(XRR)
组份
粗造度
密度
孔隙度
- 倒易空间图谱(RSM)
晶格错配
组份
取向
弛豫
横向结构
- 面内掠入射衍射 (in-plane GID)
晶胞参数
晶格错配
横向关联性
取向
物相组成
孔隙度
- 应力和织构分析
取向定量
应变
外延关联
硬度
- 物相鉴定(Phase ID)
d值确定
择优取向
晶格对称性
晶粒大小
